Activities

ATE-CUT 인터페이스 구조 및 IBIS를 위한 회로적 모델링

• ATE에서 CUT에 이르기까지의 고속 전송 데이터가 인가되는 부품 및 인터페이스 구조를 식별

• Field Simulator를 활용하여 각 부품 및 인터페이스별로 추출된 전기적 특성(S-Parameter)을 실제 장비의 구성에 맞게 통합된 채널로 모델링

• 신호 품질 분석을 위해 Tx, Rx 특성을 가진 IBIS 파일 입수

고속 전송선로 신호 품질 저하 분석 및 개선

• 회로적 모델링을 활용하여 Simulation을 통해 신호의 품질/왜곡 상태를 확인할 수 있는 Eye-Diagram 도출

• 모델링의 정합성 향상을 위해 실측과 Simulation의 각 전기적 특성을 도출하여 비교 분석 후 모델링 Parameter 보완

신호 품질 저하의 원인 부품/인터페이스 식별 기술

• 다양한 고장 조건을 Simulation하여 신호품질저하와 고장간 인과관계분석

• 인과관계 분석 DB를 학습한 인공지능을 활용하여 신호 품질 저하의 원인 부품/인터페이스 식별 기술 개발

테스트 장비의 오동작 원인 list

• 장비의 오동작을 일으키는 요인 변수와 오동작 현상에 대한 리스트업

• 실제 장비 오동작 여부 및 장비의 상태 정보를 Sensing하기 위한 Detection 구조 연구

테스트 장비의 오동작 예측

• 테스트 장비의 오동작 원인과 해당하는 센싱 방법을 선정

• 테스트 장비의 오동작과 수명을 예측할 수 있는 모델에 최적화된 입력 데이터 구성

• 학습된 데이터를 바탕으로 장비의 오동작 예측 알고리즘 개발

테스트 장비의 수명 예측

• 테스트 장비의 오동작 원인에 따른 수명 예측

의사결정에 활용할 수 있는 통합 예지보전 프로세스 PdM 개발

• 프로세스 개선 및 실제 오동작 혹인 시뮬레이션 비교 검증